Přejít k hlavnímu obsahu

Měření rentgenovým spektrometrem

  • Typ zařízení: Spektrometr VANTA VCA
  • Přesná a nedestruktinví analýza složení
  • Výstup: protokol chemického složení a obrazová dokumentace

Rentgenový spektometr

Nový spektometr VANTA

 

Nový spektrometr logo VANTAje rychlý, přesný, bateriově napájený ED-XRF spektrometr určený pro screening výrobků, produktů a surovin z hlediska směrnic RoHS/RoHS2/WEEE. Je určen pro přesné zjištění shody se směrnicí, okamžité vyhodnocení. Spektrometr měří jak materiály celistvé, tak materiály heterogenní a díky integrované kameře a fokusaci je možné se zaměřit i na drobné komponenty či jednotlivé SMD součástky. 

Použití zařízení

  • Přesná a rychlá nedestruktivní analýza chemického složení kovových a nekovových materiálů.
  • Okamžitá analýza chemické složení měřeného materiálu a shody s normou
  • Měření tlouštěk galvanického pokovení – mód Coating
  • Výstupem měření je jak chemické složení, tak verdikt souladu / nesouladu se směrnicí. Chemické složení je stanoveno u následujících prvků: Cr, Hg, Pb, Br, Cd, plus Cl, Ti, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Bi, Se, Sn, Sb.

Analýzu je možné doplnit i o další prvky: Cl, Ca, V, Mn, Se, Br, Sr, Zr, Nb, Mo, Ag, Cd, Hf, Ta, W, Ba, Au, Bi, LE.

  • Výstupní protokol společně s výsledky analýzy zahrnuje i obrazovou dokumentaci měřeného předmětu
    Mód Coating

Měřící mód pro stanovení tlouštěk galvanického pokovení v um a to z hlediska následujících povrchových vrstev:
Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Au 

Nezávazná poptávka

Do tohoto pole může být nahráno neomezené množství souborů.
Limit 32 MB.
Povolené typy: pdf, doc, docx, xls, xlsx, rar, zip, dwg.